PCT高壓加速老化試驗箱(又名PCT老化試驗箱)是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間,主要是模擬氣候環(huán)境測試產(chǎn)品在不同溫度、濕度及壓力下密封性、氣密性的試驗設(shè)備。其廣泛應(yīng)用于電子器件、汽車零配件、塑膠、線路板、IC、LCD、LED、磁鐵等行業(yè)。
PCT高壓加速老化試驗箱最主要是測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試,如果半導(dǎo)體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應(yīng)、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦贰⒎庋b體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。
PCT高壓加速老化試驗機(jī)壓力與溫度對照表
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壓力 |
溫度 |
壓力 |
溫度 |
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0.5 ㎏/ cm2 |
110℃ |
1.5 ㎏/ cm2 |
127℃ |
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1.0 ㎏/ cm2 |
121℃ |
2.0 ㎏/ cm2 |
132℃ |
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溫度偏差±1℃,壓力偏差±0.15㎏/ cm2 |
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